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    X熒光分析儀

    更新時間:2019-07-26  |  點擊率:550

     X熒光分析儀型號:CIT-3000SMD(A)

    一、應用領域該儀器是專門為黑色冶金、礦山樣品分析行業(yè)打造的一款針對性強的分析儀器,對原礦、精礦、尾礦、燒結礦、球團礦、爐渣、生鐵、石灰石等許多樣品可進行多元素快速檢測。 
    二、性能特點:
    ♦樣品平臺自動升降,工作十分方便; 
    ♦樣品盤自動旋轉,測量面積更大,并能大限度的消除顆粒誤差和不均勻誤差; 
    ♦抽真空測量,可以更大限度的提高測量元素的檢測限,有利于金屬測量以及其他輕元素測量; 
    ♦模塊化設計理念,保證了儀器后續(xù)的高擴展性; 
    ♦采用低功率X光管端窗前直徑更大,對樣品具有更好的激發(fā)效率; 
    ♦更先進的 Superfast SDD 電制冷半導體探測器,分辨率和計數率更高,有利于要求更高或更復雜的樣品分析。 

    三、儀器技術指標(1)測量范圍:1-40kev; 
    (2)可分析元素范圍:Na-U; 
    (3)分析含量范圍:1ppm-99.99%; 
    (4)分辨率:優(yōu)于127Ev; 
    (5)低檢出限:Pb≤5ppm; 
    (6)工作環(huán)境溫度:0-40攝氏度; 
    (7)工作環(huán)境相對濕度:≤80% (不結露) 
    (8)測量時間:10-2550s(時間可調) 
    (9)輸入電源:AC 220V ±10%,50HZ; 
    (10)額定功率:300W; 
    (11)探測器類型:更先進的 Superfast SDD 探測器; 
    (12)500萬像素的CDD攝像頭,可有效的實現觀察測試區(qū)域狀況,并拍下物料照片,可作為檢測報告的組成部分; 
    (13)儀器尺寸:600(W) *570(D) *570(H)mm 
    (14)樣品腔尺寸:樣品腔:300*300*100 mm 
    (15)重量:約100Kg