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    渦流測厚儀

    發(fā)表時間:2014/11/14  |  點擊率:750

    渦流測厚儀 型號:TC-ED400

    TC-ED400型渦流測厚儀是TC-ED400型測厚儀的改進型,儀器性能大幅度提高。
          儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
          儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監(jiān)督檢驗。
          儀器符合標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
    儀器特點
        TC-ED400型渦流測厚儀與TC-ED400型相比,具有如下特點:
    量程寬   TC-ED400型的量程達到0~500μm。
    精度高   TC-ED400型的測量精度達到2%。
    分辨率高  TC-ED400型的分辨率達到0.1μm。
    校正簡便   只校正“0”和“50μm”兩點,即可在全量程范圍內保證設計精度。
    基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量
       誤差不大于1~2μm。
    可靠性提高   采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結構優(yōu)化,儀器可靠性
       提高。
    穩(wěn)定性提高   采用先進的溫度補償技術,測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
       校正一次可在生產現場長期使用。
    探頭線壽命長   采用德國進口的,在德國測厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命
       可大大延長。
    探頭芯壽命長   采用高強度磁芯材料,微調了探頭設計,探頭芯壽命可大大延
       長。
    探頭可互換   外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無
       需返廠維修。

    測量范圍:     0~500μm
    測量精度:     0~50μm:±1μm;
                        50~500μm:±2%
    分 辨 率:     0~50μm:0.1μm、
                        50~500μm:1μm;
                        0~500μm:1μm(可選)
    使用溫度:     5~45℃
    外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
    重      量:     260g

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